超高壓XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法

　　超高壓XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象，物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線(xiàn)衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學(xué)方法，已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。
 

　　x射線(xiàn)的波長(cháng)和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線(xiàn)的空間衍射光柵，即一束X射線(xiàn)照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結果使射線(xiàn)的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。
 

　　超高壓XRD的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。
 

　　(1)高穩定度X射線(xiàn)源　提供測量所需的X射線(xiàn),改變X射線(xiàn)管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線(xiàn)的波長(cháng),調節陽(yáng)極電壓可控制X射線(xiàn)源的強度。
 

　　(2)樣品及樣品位置取向的調整機構系統　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
 

　　(3)射線(xiàn)檢測器　檢測衍射強度或同時(shí)檢測衍射方向,通過(guò)儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。
 

　　(4)衍射圖的處理分析系統　現代衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統,它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。